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使用X射線熒光光譜儀時避免影響測量的方法

發布時間:2019-06-13 10:11:19         點擊:675

       現場測量時,總會有一些原因造成誤差,影響測量的效果,但這些因素其實可以避免,下面我們來談談怎樣正確使用X射線熒光光譜儀,避免測量誤差。

       在現場測量中,巖石表面凹凸不平,巖石的結構也不同,不均勻,X射線熒光光譜儀的探頭放置在上面時,同位素源于巖礦表面距離往往不能與標準測量時完全相同。這種距離的變化只要毫米數量級就會引起較大的誤差,特別在測量輕元素,中等元素時(如P,S,Ti,Cu,Fe,Zn,Cr,Mo等),因此,進行現場測量時要選擇巖石露頭比較平坦的新鮮表面,對于極不平坦的巖石露頭,應該人工加以整平,力求做到與標準測量條件相同。

 X射線熒光光譜儀測量不平整巖石

X射線熒光光譜儀測量不平整巖石

       在測量方法上,應在原來位置多次重新安放探頭,并相應測出數據,取其平均值,可以達到與制作標準曲線時的測量條件基本一致。因為這種因巖石表面不平整產生的誤差屬于偶然誤差范疇,只要有足夠多次的變位測量,其偶然誤差的平均值將趨于零。

 

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